日本asey熱工狀況測量系統
主要用途
加熱時的加熱狀態(加熱量)存儲在芯片中,取出并進行測定定量。
測量儀器``RITA''正在觀察AI薄膜的[晶體狀態]。
主要用途
加熱時的加熱狀態(加熱量)存儲在芯片中,取出并進行測定定量。
測量儀器``RITA''正在觀察AI薄膜的[晶體狀態]。
主要用途
加熱時的加熱狀態(加熱量)存儲在芯片中,取出并進行測定定量。
測量儀器``RITA''正在觀察AI薄膜的[晶體狀態]。
主要用途
加熱時的加熱狀態(加熱量)存儲在芯片中,取出并進行測定定量。
測量儀器``RITA''正在觀察AI薄膜的[晶體狀態]。
日本asey熱工狀況測量系統
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